Phase field simulation of the inclusion instability and splitting processes in interconnects due to interface diffusion induced by electromigration
| Auteur(s): |
Linyong Zhou
Peizhen Huang Jiaming Zhang |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Journal of Mechanics of Materials and Structures, 24 mars 2023, n. 1, v. 18 |
| Page(s): | 39-58 |
| DOI: | 10.2140/jomms.2023.18.39 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10729152 - Publié(e) le:
30.05.2023 - Modifié(e) le:
30.05.2023
Structurae coopère avec
