Phase field simulation of the inclusion instability and splitting processes in interconnects due to interface diffusion induced by electromigration

Autor(en):	Linyong Zhou Peizhen Huang Jiaming Zhang
Medium:	Fachartikel
Sprache(n):	Englisch
Veröffentlicht in:	Journal of Mechanics of Materials and Structures, 24 März 2023, n. 1, v. 18
Seite(n):	39-58
DOI:	10.2140/jomms.2023.18.39

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