Preparación de muestras para análisis por difracción de rayos X con el equipo Philips PW 1700
Author(s): |
José Luis Sagrera
|
---|---|
Medium: | journal article |
Language(s): | Spanish |
Published in: | Materiales de Construccion, September 1984, n. 195, v. 34 |
Page(s): | 51-54 |
DOI: | 10.3989/mc.1984.v34.i195.945 |
- About this
data sheet - Reference-ID
10518247 - Published on:
11/12/2020 - Last updated on:
20/02/2021