Preparación de muestras para análisis por difracción de rayos X con el equipo Philips PW 1700
| Autor(en): |
José Luis Sagrera
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|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Spanisch |
| Veröffentlicht in: | Materiales de Construccion, September 1984, n. 195, v. 34 |
| Seite(n): | 51-54 |
| DOI: | 10.3989/mc.1984.v34.i195.945 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10518247 - Veröffentlicht am:
11.12.2020 - Geändert am:
20.02.2021
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