Preparación de muestras para análisis por difracción de rayos X con el equipo Philips PW 1700
| Auteur(s): |
José Luis Sagrera
|
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | espagnol |
| Publié dans: | Materiales de Construccion, septembre 1984, n. 195, v. 34 |
| Page(s): | 51-54 |
| DOI: | 10.3989/mc.1984.v34.i195.945 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10518247 - Publié(e) le:
11.12.2020 - Modifié(e) le:
20.02.2021
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