Détermination de la taille de petits cristaux par diffraction électronique
Author(s): |
Pierre Duc
Christian Solliard |
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Medium: | journal article |
Language(s): | French |
Published in: | Ingénieurs et architectes suisses, 29 March 1979, n. 7, v. 105 |
Year: | 1979 |
DOI: | 10.5169/seals-73820 |
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data sheet - Reference-ID
10511711 - Published on:
27/11/2020 - Last updated on:
19/02/2021