Détermination de la taille de petits cristaux par diffraction électronique
Auteur(s): |
Pierre Duc
Christian Solliard |
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Médium: | article de revue |
Langue(s): | français |
Publié dans: | Ingénieurs et architectes suisses, 29 mars 1979, n. 7, v. 105 |
Année: | 1979 |
DOI: | 10.5169/seals-73820 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10511711 - Publié(e) le:
27.11.2020 - Modifié(e) le:
19.02.2021