M. Boese
- Untersuchungen zur Siloxan Filmbildung auf funktionalisierten Germanium Kristallen mittels Rasterkraftmikroskopie (AFM) und ATR-FTIR-Spektroskopie / Investigation of Siloxane Film Formation on Functionalized Germanium Crystals by Atomic Force Microscopy and FTIR-ATR Spectroscopy. In: Restoration of Buildings and Monuments, v. 14, n. 6 (December 2008). (2008):