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Evaluation of electromechanical properties and field concentrations near electrodes in piezoelectric thick films for MEMS mirrors by simulations and tests

Auteur(s):


Médium: article de revue
Langue(s): anglais
Publié dans: Computers & Structures, , n. 11-12, v. 89
Page(s): 1077-1085
DOI: 10.1016/j.compstruc.2010.12.008
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  • Informations
    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10282918
  • Publié(e) le:
    05.01.2019
  • Modifié(e) le:
    05.01.2019
 
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