Detection of crack propagation in Si3N4/Si3N4-TiN laminated ceramics by electrical resistance
| Auteur(s): |
B. Zhang
J. B. Li Y. Deng Z. D. Guan |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Smart Materials and Structures, août 2001, n. 4, v. 10 |
| Page(s): | 846-849 |
| DOI: | 10.1088/0964-1726/10/4/402 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10215559 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018
Structurae coopère avec
