Detection of crack propagation in Si3N4/Si3N4-TiN laminated ceramics by electrical resistance
| Autor(en): |
B. Zhang
J. B. Li Y. Deng Z. D. Guan |
|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Smart Materials and Structures, August 2001, n. 4, v. 10 |
| Seite(n): | 846-849 |
| DOI: | 10.1088/0964-1726/10/4/402 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10215559 - Veröffentlicht am:
04.12.2018 - Geändert am:
04.12.2018
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