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  1. Zhang, B. / Li, J. B. / Deng, Y. / Guan, Z. D. (2001): Detection of crack propagation in Si3N4/Si3N4-TiN laminated ceramics by electrical resistance. Dans: Smart Materials and Structures, v. 10, n. 4 (août 2001).

    https://doi.org/10.1088/0964-1726/10/4/402

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