A wireless impedance analyzer for automated tomographic mapping of a nanoengineered sensing skin
| Auteur(s): |
Sukhoon Pyo
Kenneth J. Loh Tsung-Chin Hou Erik Jarva Jerome P. Lynch |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Smart Structures and Systems, juillet 2011, n. 1, v. 8 |
| Page(s): | 139-155 |
| DOI: | 10.12989/sss.2011.8.1.139 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10666308 - Publié(e) le:
27.05.2022 - Modifié(e) le:
27.05.2022
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