A wireless impedance analyzer for automated tomographic mapping of a nanoengineered sensing skin
| Autor(en): |
Sukhoon Pyo
Kenneth J. Loh Tsung-Chin Hou Erik Jarva Jerome P. Lynch |
|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Smart Structures and Systems, Juli 2011, n. 1, v. 8 |
| Seite(n): | 139-155 |
| DOI: | 10.12989/sss.2011.8.1.139 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10666308 - Veröffentlicht am:
27.05.2022 - Geändert am:
27.05.2022
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