A study on crack detection using eigenfrequency test data
Auteur(s): |
Young-Shin Lee
Myung-Jee Chung |
---|---|
Médium: | article de revue |
Langue(s): | anglais |
Publié dans: | Computers & Structures, juin 2000, n. 3, v. 77 |
Page(s): | 327-342 |
DOI: | 10.1016/s0045-7949(99)00194-7 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10280482 - Publié(e) le:
05.01.2019 - Modifié(e) le:
05.01.2019