A study on crack detection using eigenfrequency test data
| Autor(en): |
Young-Shin Lee
Myung-Jee Chung |
|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Computers & Structures, Juni 2000, n. 3, v. 77 |
| Seite(n): | 327-342 |
| DOI: | 10.1016/s0045-7949(99)00194-7 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10280482 - Veröffentlicht am:
05.01.2019 - Geändert am:
05.01.2019
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