The squeeze film damping effect of perforated microscanners: modeling and characterization
| Auteur(s): |
Dong Yan
Amit Lal |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Smart Materials and Structures, avril 2006, n. 2, v. 15 |
| Page(s): | 480-484 |
| DOI: | 10.1088/0964-1726/15/2/030 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10223065 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018
Structurae coopère avec
