The squeeze film damping effect of perforated microscanners: modeling and characterization
Autor(en): |
Dong Yan
Amit Lal |
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Medium: | Fachartikel |
Sprache(n): | Englisch |
Veröffentlicht in: | Smart Materials and Structures, April 2006, n. 2, v. 15 |
Seite(n): | 480-484 |
DOI: | 10.1088/0964-1726/15/2/030 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10223065 - Veröffentlicht am:
04.12.2018 - Geändert am:
04.12.2018