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Robust Bad Data Detection Method for Microgrid Using Improved ELM and DBSCAN Algorithm

Auteur(s): (Ph.D. Student, School of Electrical Engineering, Wuhan Univ., Wuhan, Hubei 430072, China.)
(Director, School of Electrical Engineering, Wuhan Univ., Wuhan, Hubei 430072, China (corresponding author).)
(Professor, School of Electrical Engineering, Wuhan Univ., Wuhan, Hubei 430072, China.)
(Ph.D. Student, School of Electrical Engineering, Wuhan Univ., Wuhan, Hubei 430072, China.)
(Postdoctoral Fellowship, School of Electrical Engineering, Wuhan Univ., Wuhan, Hubei 430072, China.)
(Ph.D. Student, School of Electrical Engineering, Wuhan Univ., Wuhan, Hubei 430072, China.)
(Director, School of Electrical Engineering, Wuhan Univ., Wuhan, Hubei 430072, China.)
Médium: article de revue
Langue(s): anglais
Publié dans: Journal of Energy Engineering, , n. 3, v. 144
Page(s): 04018026
DOI: 10.1061/(asce)ey.1943-7897.0000544
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  • Informations
    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10588623
  • Publié(e) le:
    08.03.2021
  • Modifié(e) le:
    08.03.2021
 
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