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Robust Bad Data Detection Method for Microgrid Using Improved ELM and DBSCAN Algorithm

Autor(en): (Ph.D. Student, School of Electrical Engineering, Wuhan Univ., Wuhan, Hubei 430072, China.)
(Director, School of Electrical Engineering, Wuhan Univ., Wuhan, Hubei 430072, China (corresponding author).)
(Professor, School of Electrical Engineering, Wuhan Univ., Wuhan, Hubei 430072, China.)
(Ph.D. Student, School of Electrical Engineering, Wuhan Univ., Wuhan, Hubei 430072, China.)
(Postdoctoral Fellowship, School of Electrical Engineering, Wuhan Univ., Wuhan, Hubei 430072, China.)
(Ph.D. Student, School of Electrical Engineering, Wuhan Univ., Wuhan, Hubei 430072, China.)
(Director, School of Electrical Engineering, Wuhan Univ., Wuhan, Hubei 430072, China.)
Medium: Fachartikel
Sprache(n): Englisch
Veröffentlicht in: Journal of Energy Engineering, , n. 3, v. 144
Seite(n): 04018026
DOI: 10.1061/(asce)ey.1943-7897.0000544
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  • Über diese
    Datenseite
  • Reference-ID
    10588623
  • Veröffentlicht am:
    08.03.2021
  • Geändert am:
    08.03.2021
 
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