Optimizing Rolling Patterns for Chip Seals Using Laboratory Aggregate Loss Performance Tests on Field Fabricated Samples
| Auteur(s): |
Jaejun Lee
Y. Richard Kim |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Journal of Performance of Constructed Facilities (ASCE), juin 2010, n. 3, v. 24 |
| Page(s): | 249-257 |
| DOI: | 10.1061/(asce)cf.1943-5509.0000096 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10199507 - Publié(e) le:
01.12.2018 - Modifié(e) le:
01.12.2018
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