Optimizing Rolling Patterns for Chip Seals Using Laboratory Aggregate Loss Performance Tests on Field Fabricated Samples
| Autor(en): |
Jaejun Lee
Y. Richard Kim |
|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Journal of Performance of Constructed Facilities (ASCE), Juni 2010, n. 3, v. 24 |
| Seite(n): | 249-257 |
| DOI: | 10.1061/(asce)cf.1943-5509.0000096 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10199507 - Veröffentlicht am:
01.12.2018 - Geändert am:
01.12.2018
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