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Optimizing Rolling Patterns for Chip Seals Using Laboratory Aggregate Loss Performance Tests on Field Fabricated Samples

Diese Veröffentlichung enthält 13 Literaturhinweise zu anderen Veröffentlichungen:

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    Datenseite
  • Reference-ID
    10199507
  • Veröffentlicht am:
    01.12.2018
  • Geändert am:
    01.12.2018
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