A method for quantitatively evaluating the impact of defects on wall U-value using infrared thermal imaging
| Auteur(s): |
Shu Zheng
Fulin Hao Youcun Lu Tingting Jiang Xudong Yang |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Building Simulation |
| DOI: | 10.1007/s12273-024-1213-7 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10816699 - Publié(e) le:
03.02.2025 - Modifié(e) le:
03.02.2025
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