A method for quantitatively evaluating the impact of defects on wall U-value using infrared thermal imaging
| Autor(en): |
Shu Zheng
Fulin Hao Youcun Lu Tingting Jiang Xudong Yang |
|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Building Simulation |
| DOI: | 10.1007/s12273-024-1213-7 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10816699 - Veröffentlicht am:
03.02.2025 - Geändert am:
03.02.2025
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