Investigating electro-mechanical signals from collocated piezoelectric wafers for the reference-free damage diagnosis of a plate
Auteur(s): |
Eun Jin Kim
Min Koo Kim Hoon Sohn Hyun Woo Park |
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Médium: | article de revue |
Langue(s): | anglais |
Publié dans: | Smart Materials and Structures, juin 2011, n. 6, v. 20 |
Page(s): | 065001 |
DOI: | 10.1088/0964-1726/20/6/065001 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10217277 - Publié(e) le:
02.12.2018 - Modifié(e) le:
09.08.2019