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Investigating electro-mechanical signals from collocated piezoelectric wafers for the reference-free damage diagnosis of a plate

Autor(en):



Medium: Fachartikel
Sprache(n): Englisch
Veröffentlicht in: Smart Materials and Structures, , n. 6, v. 20
Seite(n): 065001
DOI: 10.1088/0964-1726/20/6/065001
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  • Über diese
    Datenseite
  • Reference-ID
    10217277
  • Veröffentlicht am:
    02.12.2018
  • Geändert am:
    09.08.2019
 
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