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La bibliographie suivante contient toutes les publications répertoriées dans la base de données qui sont reliées à ce nom en tant qu'auteur, éditeur ou collaborateur.

  1. Park, Hyun Woo / Sohn, Hoon / Law, Kincho H. / Farrar, Charles R. (2007): Time reversal active sensing for health monitoring of a composite plate. Dans: Journal of Sound and Vibration, v. 302, n. 1-2 (avril 2007).

    https://doi.org/10.1016/j.jsv.2006.10.044

  2. Park, Hyun Woo / Sohn, Hoon (2005): Parameter Estimation of the Generalized Extreme Value Distribution for Structural Health Monitoring. Présenté pendant: 2005 Structures Congress: Metropolis and Beyond & 2005 Forensic Engineering Symposium, New York (New York), USA, 20-24 April 2005.

    https://doi.org/10.1061/40753(171)87

  3. Lee, Hyeonseok / Park, Hyun Woo / Sohn, Hoon (2014): Pipe Defect Visualization and Quantification Using Longitudinal Ultrasonic Modes. Dans: International Journal of Structural Stability and Dynamics, v. 14, n. 5 (juin 2014).

    https://doi.org/10.1142/s0219455414400082

  4. Park, Hyun Woo / Kim, Eun Jin / Lim, Ki Lyong / Sohn, Hoon (2010): Spectral element formulation for dynamic analysis of a coupled piezoelectric wafer and beam system. Dans: Computers & Structures, v. 88, n. 9-10 (mai 2010).

    https://doi.org/10.1016/j.compstruc.2010.01.010

  5. Park, Seung-Keun / Park, Hyun Woo / Shin, Soobong / Lee, Hae Sung (2008): Detection of abrupt structural damage induced by an earthquake using a moving time window technique. Dans: Computers & Structures, v. 86, n. 11-12 (juin 2008).

    https://doi.org/10.1016/j.compstruc.2007.11.003

  6. Park, Hyun Woo / Lim, Taejeong (2018): Investigating a common premise in structural health monitoring: Are higher modal frequencies more sensitive to an incipient crack on a beam than lower ones?. Dans: Engineering Structures, v. 176 (décembre 2018).

    https://doi.org/10.1016/j.engstruct.2018.08.102

  7. Kim, Eun Jin / Kim, Min Koo / Sohn, Hoon / Park, Hyun Woo (2011): Investigating electro-mechanical signals from collocated piezoelectric wafers for the reference-free damage diagnosis of a plate. Dans: Smart Materials and Structures, v. 20, n. 6 (juin 2011).

    https://doi.org/10.1088/0964-1726/20/6/065001

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