In situcharacterization of NiTi based shape memory thin films by optical measurement
| Auteur(s): |
M. J. Wu
W. M. Huang F. Chollet |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Smart Materials and Structures, avril 2006, n. 2, v. 15 |
| Page(s): | N29-N35 |
| DOI: | 10.1088/0964-1726/15/2/n01 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10223046 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018
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