An IGBT coupling structure with a smart service life reliability predictor using active learning
Auteur(s): |
Shizhe Feng
Yicheng Guo Weihua Li Haiping Du Grzegorz Królczyk Z. Li |
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Médium: | article de revue |
Langue(s): | anglais |
Publié dans: | Smart Materials and Structures, 18 septembre 2024, n. 10, v. 33 |
Page(s): | 105029 |
DOI: | 10.1088/1361-665x/ad7659 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10798892 - Publié(e) le:
23.09.2024 - Modifié(e) le:
23.09.2024