An IGBT coupling structure with a smart service life reliability predictor using active learning
| Autor(en): |
Shizhe Feng
Yicheng Guo Weihua Li 
Haiping Du Grzegorz Królczyk Z. Li
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|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Smart Materials and Structures, 18 September 2024, n. 10, v. 33 |
| Seite(n): | 105029 |
| DOI: | 10.1088/1361-665x/ad7659 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10798892 - Veröffentlicht am:
23.09.2024 - Geändert am:
23.09.2024
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