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A guided Bayesian inference approach for detection of multiple flaws in structures using the extended finite element method

Auteur(s):


Médium: article de revue
Langue(s): anglais
Publié dans: Computers & Structures, , v. 152
Page(s): 27-44
DOI: 10.1016/j.compstruc.2015.02.010
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  • Informations
    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10284592
  • Publié(e) le:
    05.01.2019
  • Modifié(e) le:
    05.01.2019
 
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