A guided Bayesian inference approach for detection of multiple flaws in structures using the extended finite element method
Autor(en): |
Gang Yan
Hao Sun Haim Waisman |
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Medium: | Fachartikel |
Sprache(n): | Englisch |
Veröffentlicht in: | Computers & Structures, Mai 2015, v. 152 |
Seite(n): | 27-44 |
DOI: | 10.1016/j.compstruc.2015.02.010 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10284592 - Veröffentlicht am:
05.01.2019 - Geändert am:
05.01.2019