Data-driven approach for a one-dimensional thin-walled beam analysis
| Auteur(s): |
Dongil Shin
Yoon Young Kim |
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Computers & Structures, avril 2020, v. 231 |
| Page(s): | 106207 |
| DOI: | 10.1016/j.compstruc.2020.106207 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10410745 - Publié(e) le:
05.02.2020 - Modifié(e) le:
05.02.2020
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