Data-driven approach for a one-dimensional thin-walled beam analysis

Autor(en):	Dongil Shin Yoon Young Kim
Medium:	Fachartikel
Sprache(n):	Englisch
Veröffentlicht in:	Computers & Structures, April 2020, v. 231
Seite(n):	106207
DOI:	10.1016/j.compstruc.2020.106207

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