Characterization of ultra-low-load (µN) nanoindents in GaAs(100) using a cube corner tip
Auteur(s): |
Curtis R. Taylor
Ajay P. Malshe Gregory Salamo Robin N. Prince Laura Riester Seong Oh Cho |
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Médium: | article de revue |
Langue(s): | anglais |
Publié dans: | Smart Materials and Structures, octobre 2005, n. 5, v. 14 |
Page(s): | 963-970 |
DOI: | 10.1088/0964-1726/14/5/034 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10217192 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018