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Characterization of ultra-low-load (µN) nanoindents in GaAs(100) using a cube corner tip

Cette publication a 20 références bibliographiques :

  • Informations
    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10217192
  • Publié(e) le:
    04.12.2018
  • Modifié(e) le:
    04.12.2018
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