Characterization of ultra-low-load (µN) nanoindents in GaAs(100) using a cube corner tip
Autor(en): |
Curtis R. Taylor
Ajay P. Malshe Gregory Salamo Robin N. Prince Laura Riester Seong Oh Cho |
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Medium: | Fachartikel |
Sprache(n): | Englisch |
Veröffentlicht in: | Smart Materials and Structures, Oktober 2005, n. 5, v. 14 |
Seite(n): | 963-970 |
DOI: | 10.1088/0964-1726/14/5/034 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10217192 - Veröffentlicht am:
04.12.2018 - Geändert am:
04.12.2018