Characterization of ferroelectric ceramics using x-ray diffraction, transmission electron microscopy, and x-ray photoelectron spectroscopy
Auteur(s): |
Jae-Nam Kim
Kwang-Soo Shin Byung-Ok Park Jin-Hong Lee Nam-Kyoung Kim Sang-Hee Cho |
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Médium: | article de revue |
Langue(s): | anglais |
Publié dans: | Smart Materials and Structures, août 2003, n. 4, v. 12 |
Page(s): | 565-570 |
DOI: | 10.1088/0964-1726/12/4/308 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10216100 - Publié(e) le:
04.12.2018 - Modifié(e) le:
04.12.2018