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Characterization of ferroelectric ceramics using x-ray diffraction, transmission electron microscopy, and x-ray photoelectron spectroscopy

Cette publication a 17 références bibliographiques :

  • Informations
    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10216100
  • Publié(e) le:
    04.12.2018
  • Modifié(e) le:
    04.12.2018
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