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Characterization of ferroelectric ceramics using x-ray diffraction, transmission electron microscopy, and x-ray photoelectron spectroscopy

Structurae kann Ihnen derzeit diese Veröffentlichung nicht im Volltext zur Verfügung stellen. Der Volltext ist beim Verlag erhältlich über die DOI: 10.1088/0964-1726/12/4/308.
  • Über diese
    Datenseite
  • Reference-ID
    10216100
  • Veröffentlicht am:
    04.12.2018
  • Geändert am:
    04.12.2018
 
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