Characterisation of damage evolution in plain weave SiC/SiC composites using in situ X-ray micro-computed tomography
Auteur(s): |
Daxu Zhang
Yu Liu Hailong Liu Yuqi Feng Hongbao Guo Zhiliang Hong Chao Chen Yi Zhang |
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Médium: | article de revue |
Langue(s): | anglais |
Publié dans: | Composite Structures, novembre 2021, v. 275 |
Page(s): | 114447 |
DOI: | 10.1016/j.compstruct.2021.114447 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10626550 - Publié(e) le:
26.08.2021 - Modifié(e) le:
26.08.2021