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Characterisation of damage evolution in plain weave SiC/SiC composites using in situ X-ray micro-computed tomography

Structurae kann Ihnen derzeit diese Veröffentlichung nicht im Volltext zur Verfügung stellen. Der Volltext ist beim Verlag erhältlich über die DOI: 10.1016/j.compstruct.2021.114447.
  • Über diese
    Datenseite
  • Reference-ID
    10626550
  • Veröffentlicht am:
    26.08.2021
  • Geändert am:
    26.08.2021
 
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