Bayesian Network for E/M Impedance-Based Damage Identification
Auteur(s): |
A. S. Naidu
C. K. Soh K. V. Pagalthivarthi |
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Médium: | article de revue |
Langue(s): | anglais |
Publié dans: | Journal of Computing in Civil Engineering, juillet 2006, n. 4, v. 20 |
Page(s): | 227-236 |
DOI: | 10.1061/(asce)0887-3801(2006)20:4(227) |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10259861 - Publié(e) le:
29.12.2018 - Modifié(e) le:
29.12.2018