Bayesian Network for E/M Impedance-Based Damage Identification
| Autor(en): |
A. S. Naidu
C. K. Soh K. V. Pagalthivarthi |
|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Journal of Computing in Civil Engineering, Juli 2006, n. 4, v. 20 |
| Seite(n): | 227-236 |
| DOI: | 10.1061/(asce)0887-3801(2006)20:4(227) |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10259861 - Veröffentlicht am:
29.12.2018 - Geändert am:
29.12.2018
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