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Accurate measurement of the piezoelectric coefficient of thin films by eliminating the substrate bending effect using spatial scanning laser vibrometry

Cette publication a 28 références bibliographiques :

  • Informations
    sur cette fiche
  • Reference-ID
    10224194
  • Publié(e) le:
    04.12.2018
  • Modifié(e) le:
    04.12.2018
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