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W. F. Schmidt

La bibliographie suivante contient toutes les publications répertoriées dans la base de données qui sont reliées à ce nom en tant qu'auteur, éditeur ou collaborateur.

  1. Virwani, Kumar R. / Malshe, A. P. / Schmidt, W. F. / Sood, D. K. (2003): Young s modulus measurements of silicon nanostructures using a scanning probe system: a non-destructive evaluation approach. Dans: Smart Materials and Structures, v. 12, n. 6 (décembre 2003).

    https://doi.org/10.1088/0964-1726/12/6/023

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