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  1. He, Q. / Huang, W. M. / Hong, M. H. / Wu, M. J. / Fu, Y. Q. / Chong, T. C. / Chellet, F. / Du, H. J. (2004): Characterization of sputtering deposited NiTi shape memory thin films using a temperature controllable atomic force microscope. Dans: Smart Materials and Structures, v. 13, n. 5 (octobre 2004).

    https://doi.org/10.1088/0964-1726/13/5/001

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