Yield-stress based error indicator for adaptive quasi-static yield design of structures
| Auteur(s): |
Canh V. Le
|
|---|---|
| Médium: | article de revue |
| Langue(s): | anglais |
| Publié dans: | Computers & Structures, 15 juillet 2016, v. 171 |
| Page(s): | 1-8 |
| DOI: | 10.1016/j.compstruc.2016.04.004 |
- Informations
sur cette fiche - Reference-ID
10284799 - Publié(e) le:
05.01.2019 - Modifié(e) le:
05.01.2019
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