Yield-stress based error indicator for adaptive quasi-static yield design of structures
| Autor(en): |
Canh V. Le
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|---|---|
| Medium: | Fachartikel |
| Sprache(n): | Englisch |
| Veröffentlicht in: | Computers & Structures, 15 Juli 2016, v. 171 |
| Seite(n): | 1-8 |
| DOI: | 10.1016/j.compstruc.2016.04.004 |
- Über diese
Datenseite - Reference-ID
10284799 - Veröffentlicht am:
05.01.2019 - Geändert am:
05.01.2019
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